Описание Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия
Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники».
Рекомендуем к прочтению
Слабоустойчивые длиннопериодические структуры в металлических системах
Коллектив авторов
Текстильное материаловедение: учебное пособие
Н. Н. Цветкова
Неорганические наноматериалы
Э. Г. Раков
Физико-химическая эволюция твердого вещества
И. В. Мелихов
Пористые порошковые материалы и изделия на их основе для защиты здоровья человека и охраны окружающей среды: получение, свойства, применение
М. В. Тумилович
Технологии конструкционных наноструктурных материалов и покрытий
Коллектив авторов
Термодинамические расчеты в практике конструирования и применения сварочных материалов
Н. Ю. Борд
Обработка и упрочнение поверхностей при изготовлении и восстановлении деталей